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用GTEM小室進行輻射抗擾度測試的主要原因有這些

更新時間:2020-10-12      瀏覽次數:1713
   GTEM小室構成的輻射敏感度(抗擾度)測試系統為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。由于GTEM小室工作頻率極寬(從直流到3GHz以上),造價低(遠遠低于電波暗室的造價)。既可以用于電磁兼容輻射靈敏度試驗(EMS試驗,也稱抗擾度試驗),又可用于電磁輻射試驗(EMI試驗),而且所用儀器配置簡單、成本便宜,可用于快速和自動測試的特點,所以越來越受到和國內有關人士的重視。目前在射頻測試中GTEM小室對小體積設備應用測試結果的一致性也為很多檢測機構認同,使其成為性能價格比較佳的測試方案。
  用GTEM小室進行輻射抗擾度測試,主要原因如下:
  1.適當尺寸的GTEM小室的費用比建暗室要低不少,可行性高;
  2.占用空間小;
  3.提供了與外界隔離的測試環境,避免相互影響,也保護了測試人員
  4.很容易實現直流到1GHz
  5.很容易實現達50V/m 的場強
  6.很容易通過場強計進行場強校準
  GTEM小室具備的特點:
  性價比
  目前的GTEM小室是性價比較高的電磁兼容產品。對比市場中的其他電磁兼容設設備以及靜電測試儀器,他的性價比是較高的。
  性能穩定
  GTEM小室的性能是穩定的,而且測試結果也是比較準確的。目前它可以重復性的進行測試,而且適應性比較強,因此受到很多專業人士的歡迎。